下列说法错误的是集成电路是微电子技术的核心

毕业院校:清华大学冯建华（北京大学微电子学系SOC测试中心主任）冯建华，陕西渭南人，教授，博士，北京大学微电子学系SOC测试中心主任。计算机学会和电子学会高级会员，容错专业委员会常委。1982年毕业瑞泉中学，1986年毕业于哈尔滨工业大学半导体物理与器件专业获学士学位，1995年在西安电子科技大学微电子学专业获硕士学位，2000年在西安微电子技术研究所获博士学位，2000年至2002年清华大学做博士后。研究方向为数字、模拟和混合信号电路测试和可测试性设计。先后主持国家自然科学基金面上项目“芯片硬件木马安全检测方法研究”以及“嵌入式模拟和混合信号内核的bist和dft研究”等3项，国家预研课题4项，讲授《VLSI测试和可测试性设计》课程。发表论文30余篇，专利4项。目前承担的主要科研项目：基于嵌入式内核SOC系统芯片测试方法研究；嵌入式模拟和混合信号内核的BIST和DFT研究；现场可编程门阵列器件测性技术；混合电路BIST和噪声测试研究；CMOS电路IDDQ测试矢量生成技术。合作出版《超大规模集成电路—测试数字、存储器和混合信号系统》和《现代集成电路测试技术》等著作3部，其中《现代集成电路测试技术》获省部级优秀图书一等奖。冯建华等2009年曾翻译（美）伯恩斯、（美）罗伯茨著的《混合信号集成电路测试与测量》一书由电子工业出版社做为“国外电子与通信教材系列”丛书之一出版。冯建华等的“基于ATE的EPGA自动测试方法研究”获2011年“北京大学第六届实验技术成果奖”三等奖。

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DC传输介质CCYBYA双N程序CCDB打印BB呵呵不一定全对,仅供参考!