光电测量的核心是什么

CCD光电测量光电测量产品采用物方远心光路系统和CCD成像法进行非接触尺寸检测。其核心部件为远心光电测头，简称“光电测头”。光电测量可分为单测头、双测头、广角测头。光电测量是一种用于非常广泛的设备，测径、测宽、测厚、测直线度、测回弹量等几何尺寸的应用，还可实现切分轧制中的测量。

1、单测头测量原理这是一种被人广为熟知的一种测量原理，网上搜光电测量原理，也大都是这一种。光电测量产品采用物方远心光路系统和CCD成像法进行非接触尺寸检测。其核心部件为远心光电测头，简称“光电测头”。每组测头由发射镜头和接收镜头组成。发射镜头内点光源发出的光穿过发射透镜后形成平行光视场。视场内的平行光再由接收透镜聚焦，在CCD芯片上成像。当被测物通过视场时，被测物遮挡的部位在CCD芯片上显示为无光的阴影。通过CCD芯片光电转换和相应电路系统的数字化处理，即可通过阴影的宽度L计算出被测物的直径D。2、双测头测量原理双测头测量原理是在单测头测量原理的基础上衍伸出来的，双测头由两组测头构成，两组测头以净间距B平行设置。当被测物通过2束平行光视场时，将在两个接收镜头的CCD芯片上分别形成宽度为L1、L2的阴影。经过电路系统处理可得出L1、L2对应的尺寸A1、A2，A1、A2再加上B即可得出被测物的尺寸D。这种测量方式是对大直径轧材进行检测的，同时可定制成间距可调双测头，即两组测头的间距可调，这样可对多规格大直径的轧材进行检测，随时调整测量范围，完成生产中的所有规格的轧材检测。3、广角光电测头广角光电测头简称广角测头，是利用光电测头的CCD采集电路配合广角镜头构成的大视角光电测头。与广角测头配合使用的光源为LED条形光源，光源的长度根据测头的视野角度和距离确定。广角测头的优点是视野范围大，可以测量比镜头口径大的物体。由于广角测头成像时存在成像大小随物距变化而变化的现象，所以利用广角测头测量需要进行物距修正。

采用光电检测器件，如PD,PMT，APD，等把光信号转换成电信号，这是一个比较片面的回答。